现行 SJ/T 11766-2020
光电耦合器件低频噪声参数测试方法 光电耦合器件低频噪声参数测试方法
发布日期：2020-12-09
实施日期：2021-04-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L50电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 光电子器件综合
ICS分类： 31.080.01半导体分立器件 - 半导体器分立件综合
研制信息

归口单位： 基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组

起草单位： 工业和信息化部电子第五研究所、 西安电子科技大学、 重庆赛宝工业技术研究院

起草人： 余永涛、 胡为、 张伟

标准简介

本标准规定了光电耦合器件（以下简称光耦）1Hz～300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求

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最后更新时间 2025-09-02