现行 SJ 21565.2-2020
微波多芯片组件控氢要求 第2部分:释氢量测试方法 微波多芯片组件控氢要求 第2部分:释氢量测试方法 Demands for hydrogen-control of multi-chip microwave module-Part2:Test method for hydrogen releasing amount
发布日期：2020-06-03
实施日期：2020-08-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L55电子元器件与信息技术 - 微电路 - 微电路综合
ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学
研制信息

起草单位： 中国电子科技集团第四研究院

起草人： 卢海燕、 赵培堂、 李明荣、 胡江华、 苏伟、 彭高森、 杨程、 杨兆军

标准简介

本部分规定了微波组件和多芯片组件控氢中的释氢量测试目的及分类、样件设计与制作、激发释氢条件、测试程序等。本部分适用于微波组件和多芯片组件(以下简称组件)的设计、制造、检验等过程中原材料、零部件、器件或组件的释氢量测试。其他产品材料或器件的释氢量测试可参照使用

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最后更新时间 2025-09-02