现行 SJ/Z 21580-2020
半导体分立器件统计过程控制技术实施指南 半导体分立器件统计过程控制技术实施指南 Guide for statistical process control technique implementation of discrete semiconductor devices
发布日期:2020-06-03
实施日期:2020-08-01
分类信息
研制信息

起草单位: 工业和信息化部电子第四研究院、 济南市半导体元件试验所、 西安电子科技大学

起草人: 张秋、 张玉芹、 侯秀萍、 韩丽娟、 李锟、 贾新章

标准简介

本指导性技术文件规定了半导体分立器件工艺制造过程实施统计过程控制(SPC)技术的方法、主要步骤和相关技术的应用。本指导性技术文件适用于快恢复整流二极管、肖特基二极管、双极型晶体管、金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)工艺制造过程实施SPC,其他类型半导体分立器件可参照使用

相似标准/计划/法规
SJ/Z 21583-2020
瓷介电容器统计过程控制技术实施指南
Guide for statistical process control technique implementation of ceramic capacitors
2020-06-03
SJ/Z 21581-2020
固体继电器统计过程控制技术实施指南
Guide for statistical process control technique implementation of solid state relays
2020-06-03
SJ/Z 21582-2020
钽电解电容器统计过程控制技术实施指南
Guide for statistical process control technique implementation of tantalum electrolyte capacitors
2020-06-03
SJ/Z 21584-2020
片式膜固定电阻器统计过程控制技术实施指南
Guide to implementation statistical process control technique of fixed film chip resistors
2020-06-03
GOST R ISO 11462-2-2012
Статистические методы. Руководство по внедрению статистического управления процессами. Часть 2. Методы и приемы
统计方法 执行统计过程控制指引 第二部分工具和技巧
KS Q ISO 11462-2(2020 Confirm)
통계적 공정 관리(SPC)의 구현 지침-도구 및 기법
统计过程控制实施导则第2部分:工具和技术目录
2015-12-04
ISO 11462-2-2010
Guidelines for implementation of statistical process control (SPC) — Part 2: Catalogue of tools and techniques
实施统计过程控制指南(SPC) - 第2部分:工具和技术目录
2010-09-10
BS 09/30142128 DC
BS ISO 11462-2. Guidelines for implementation of statistical process control (SPC). Part 2. Catalogue of tools and techniques
BS ISO 11462-2 统计过程控制(SPC)实施指南 第二部分 工具和技术目录
2009-04-14
BS 5702-3-2008
Guide to statistical process control (SPC) charts for variables-Charting techniques for short runs and small mixed batches
变量统计过程控制(SPC)图表指南 短期运行和小混合批次的图表技术
2008-04-30
BS 03/102261 DC
BS5702-3. Guide to statistical process control charts for variables. Part 3. Charting techniques for short production runs and small mixed batches
BS5702-3 变量统计过程控制图指南 第三部分 短生产运行和小混合批次的图表技术
2003-11-28
半导体分立器件实施指南

最后更新时间 2025-09-02