现行 SJ/T 11767-2020
二极管低频噪声参数测试方法 二极管低频噪声参数测试方法
发布日期：2020-12-09
实施日期：2021-04-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L41电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体二极管
ICS分类： 31.080.01半导体分立器件 - 半导体器分立件综合
研制信息

归口单位： 基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组

起草单位： 工业和信息化部电子第五研究所、 西安电子科技大学、 重庆赛宝工业技术研究院

起草人： 余永涛、 胡为、 恩云飞

标准简介

适用于二极管1 Hz～300 kHz 频率范围内的噪声参数的测试

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最后更新时间 2025-09-02