归口单位: 基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
起草单位: 工业和信息化部电子第五研究所、 中国运载火箭技术研究院、 西安电子科技大学
起草人: 罗宏伟、 张伟、 胡为
适用于电子元器件1 Hz~300 kHz 频率范围内的噪声参数测试
最后更新时间 2025-09-02