现行 SJ/T 11769-2020
电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求
发布日期:2020-12-09
实施日期:2021-04-01
分类信息
研制信息

归口单位: 基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组

起草单位: 工业和信息化部电子第五研究所、 中国运载火箭技术研究院、 西安电子科技大学

起草人: 罗宏伟、 张伟、 胡为

标准简介

适用于电子元器件1 Hz~300 kHz 频率范围内的噪声参数测试

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最后更新时间 2025-09-02