现行 SJ/T 11765-2020
晶体管低频噪声参数测试方法 晶体管低频噪声参数测试方法
发布日期：2020-12-09
实施日期：2021-04-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L42L44
ICS分类： 31.080.30半导体分立器件 - 三极管
研制信息

归口单位： 基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组

起草单位： 工业和信息化部电子第五研究所、 中国运载火箭技术研究院、 西安电子科技大学

起草人： 罗宏伟、 胡为、 王小强

标准简介

适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行

相似标准/计划/法规
GOST 18604.20-1978
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最后更新时间 2025-09-02