现行 SJ 21634-2021
半导体集成电路 多节点低电压差分信号电路(M-LVDS)测试方法 半导体集成电路 多节点低电压差分信号电路(M-LVDS)测试方法
发布日期：
实施日期：2022-03-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L56电子元器件与信息技术 - 微电路 - 半导体集成电路
ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学
标准简介

本标准规定了半导体集成电路多节点低电压差分信号(M-LVDS)电路（以下简称器件）的静态参数和动态参数测试方法。本标准适用于多节点低电压差分信号电路静态参数和动态参数的测试

相似标准/计划/法规
GB/T 35007-2018
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
2018-03-15
电路集成电路半导体节点信号

最后更新时间 2025-09-02