现行 SJ 21635-2021
半导体集成电路 异步双端口静态随机存储器(SRAM)测试方法 半导体集成电路 异步双端口静态随机存储器(SRAM)测试方法
发布日期：
实施日期：2022-03-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L56电子元器件与信息技术 - 微电路 - 半导体集成电路
ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学
标准简介

本标准规定了异步双端口静态随机存储器(SRAM)(以下简称器件）功能、静态参数和动态参数的测试方法。本标准适用于异步双端口静态随机存储器（SRAM）功能、静态参数和动态参数的测试

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最后更新时间 2025-09-02