现行 SJ 21651-2021
军用超高频无源标签芯片性能测试方法 军用超高频无源标签芯片性能测试方法
发布日期：
实施日期：2022-03-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L56电子元器件与信息技术 - 微电路 - 半导体集成电路
ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学
标准简介

本标准规定了军用超高频无源标签芯片测试的基本要求、协议符合性测试、电性能测试和数据采集与处理的方法。本标准适用于军用超高频无源标签芯片的性能测试

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性能测试芯片标签方法

最后更新时间 2025-09-02