现行 JJF 1895-2021
半导体器件直流和低频参数测试设备校准规范 半导体器件直流和低频参数测试设备校准规范 Calibration Specification for Semiconductor Devices DC and Low Frequency Parameters Test Equipments
发布日期：2021-02-23
实施日期：2021-08-23
分类信息
发布单位或类别： 中国 国家计量技术规范
CCS分类： A55综合 - 计量 - 电磁计量
ICS分类： 17.220计量学和测量、物理现象 - 电学、磁学、电和磁的测量
研制信息

归口单位： 全国无线电计量技术委员会

起草单位： 中国电子技术标准化研究院

起草人： 刘冲、 李洁、 张珊

标准简介

本规范适用于半导体器件直流和低频参数测试设备的校准

相似标准/计划/法规
校准低频参数测试半导体器件

最后更新时间 2025-09-02