本文件规定了X射线衍射法测定ZSM-22分子筛相对结晶度的试验方法。本文件适用于ZSM-22 (TON结构)分子筛及其改性的ZSM-22分子筛相对结晶度的测定,相对结晶度测定范围为32.0%~100.0%。本文件不适用于在XRD谱图中检测到明显杂晶峰的过渡态样品
最后更新时间 2025-09-02