现行 SJ/T 11820-2022
半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法
发布日期:2022-10-20
实施日期:2023-01-01
分类信息
研制信息

归口单位: 全国电子测量仪器标准化技术委员会

起草单位: 中国电子技术标准化研究院、 深圳市施罗德工业集团有限公司

起草人: 刘冲、 李洁、 张珊

标准简介

适用于直流电压输出和直流电压测量范围不超过 0.01 V~5 000 V,直流电流输出和直流电流测量范围不超过 1 nA~10 A,脉冲电流输出和脉冲电流测量范围不超过 10 A~1 200 A 的分立器件测试设备

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半导体分立器件参数测试

最后更新时间 2025-09-02