现行 SJ/T 11845.2-2022
基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分:光电耦合器件 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分:光电耦合器件
发布日期:2022-10-20
实施日期:2023-01-01
分类信息
研制信息

归口单位: 工业和信息化部

标准简介

本文件规定了用于光电耦合器件可靠性评价的低频噪声参数、 评价方法及方法应用

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最后更新时间 2025-09-02