现行 JJF (电子) 0103-2023
在片微波测试系统散射参数校准规范 在片微波测试系统散射参数校准规范
发布日期：
实施日期：2024-02-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 国家计量技术规范
CCS分类：
ICS分类：
标准简介

本校准规范适用于1GHz～110GHz输入输出型式为GSG型共面波导在片微波测试系统散射参数的校准，典型探针间距为150um、100um、50um。其它型式（如GS、GSGSG等）不同间距的片上微波测试系统散射参数校准可参照此规范执行。在片微波测试系统主要用于裸芯片在片S参数测试，主要包括网络分析仪、探针和微波电缆等

相似标准/计划/法规
散射校准微波参数测试

最后更新时间 2025-09-02