现行 SJ 2757-1987
重掺半导体载流子浓度的红外反射测试方法 重掺半导体载流子浓度的红外反射测试方法 Method of measurement by infra-red reflection for charge carrier concentraiton of heavily doped semiconductors
发布日期：1987-02-10
实施日期：1987-07-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L90电子元器件与信息技术 - 电子设备与专用材料、零件、结构件 - 电子技术专用材料
ICS分类：
标准简介

本标准适用于测量重掺半导体体材料载流子浓度，也适用于测量外延层、埋层和扩散层的载流子浓度

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最后更新时间 2025-08-28