现行 YD/T 6305-2024
安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法 安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法
发布日期:2024-12-10
实施日期:2025-04-01
分类信息
研制信息

归口单位: 工业和信息化部

标准简介

本文件规定了安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法,包括安全芯片非入侵式攻击缓解的测试要求、测试准备、测试方法与量化指标、以及特殊情况说明等本文件适用于指导安全芯片的非入侵式攻击缓解测试,从攻击与测试两个角度为厂商提供安全芯片的设计参考

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最后更新时间 2025-09-02