GB/T 15651-1995
半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
Semiconductor devices--Discrete devices and integrated circuits--Part 5:Optoelectronic devices
1995-07-24
GOST 29283-1992
Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 5. Оптоэлектронные приборы
半导体器件 分立器件和集成电路 光电器件
GB/T 17573-1998
半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则
Semiconductor devices--Discrete devices and integrated circuits--Part 1:General
1998-11-17
BS IEC 60747-10-1991
Semiconductor devices-Generic specification for discrete devices and integrated circuits
半导体器件 分立器件和集成电路总规范
2011-07-31
KS C IEC 60747-2(2016 Confirm)
반도체 소자－개별 소자 및 집적 회로－제2부：정류 다이오드
半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管
2006-12-11
GB/T 4589.1-2006
半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
Semiconductor devices - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits
2006-10-10
GB/T 4023-2015
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
Semiconductor devices—Discrete devices and integrated circuits—
Part 2: Rectifier diodes
2015-12-31
GOST 28623-1990
Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы
半导体器件 第10部分分立器件和集成电路的一般规范
GOST 29209-1991
Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 2. Выпрямительные диоды
半导体器件 分立器件和集成电路 第二部分 整流二极管
KS C IEC 60747-5-1
개별 반도체 소자 및 집적 회로 —제5-1부: 광전소자 — 일반 사항
分立半导体器件和集成电路第5-1部分:光电器件总则
2020-12-24
KS C IEC 60747-11(2017 Confirm)
개별 반도체 소자－제11부：개별 소자의 품종 규격
分立半导体器件第11部分:分立器件分规范
2002-12-31
IEC 60747-15-2024
Semiconductor devices - Part 15: Discrete devices - Isolated power semiconductor devices
半导体器件第15部分:分立器件隔离功率半导体器件
2024-10-22
IEC 60747-15-2024 RLV
Semiconductor devices - Part 15: Discrete devices - Isolated power semiconductor devices
半导体器件第15部分:分立器件隔离功率半导体器件
2024-10-22
KS C IEC 60747-5
반도체 소자 — 개별 소자 —제5부: 광전소자
半导体器件分立器件第5部分:光电器件
2020-12-24
GB/T 20516-2006
半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave devices
2006-10-10
KS C IEC 60747-5-3
개별 반도체 소자 및 집적 회로— 제5-3부: 광전 소자 — 측정 방법
分立半导体器件和集成电路 - 第5-3部分:光电器件 - 测量方法
2020-12-24
GB/T 15651.3-2003
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods
2003-11-24
KS C IEC 60747-6(2016 Confirm)
반도체 소자－개별 소자－제6부：사이리스터
半导体器件分立器件第6部分:晶闸管
2006-12-27
KS C IEC 60747-6
반도체 소자 — 제6부：개별 소자 —사이리스터
半导体器件第6部分:分立器件晶闸管
2021-12-29
IEC 60747-6-2016
Semiconductor devices - Part 6: Discrete devices - Thyristors
半导体器件 - 第6部分:分立器件 - 晶闸管
2016-04-13