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YS/T 1754-2025 颗粒硅表面粉尘的测定 浊度法
未生效
YS/T 1754-2025
颗粒硅表面粉尘的测定 浊度法
颗粒硅表面粉尘的测定 浊度法
发布日期:
2025-04-10
实施日期:
2025-11-01
分类信息
发布单位或类别:
中国 行业标准-有色金属
CCS分类:
H17冶金 - 金属化学分析方法 - 半金属及半导体材料分析方法
ICS分类:
标准简介
适用于颗粒硅表面粉尘的测定,测定范围为0NTU~1000NTU
相似标准/计划/法规
浊度
粉尘
测定
颗粒
表面
最后更新时间 2025-09-02
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