起草单位： 机械电子工业部第四十六研究所
起草人： 李光平、 何秀坤、 王琴、 郑驹、 阎萍
本标准规定了半绝缘砷化镓中铬浓度的红外吸收测量原理、仪器设备、测量步骤、结果计算和精度等。 本标准适用于掺铬水平法生长半绝缘砷化镓中Cr浓度的测定，适于样品厚度2～4mm。不适于铬浓度大于1.5×10^(17)cm^(-3)的试样
最后更新时间 2025-08-28