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SJ 3245-1989 磷化铟单晶位错的测量方法
作废
SJ 3245-1989
磷化铟单晶位错的测量方法
磷化铟单晶位错的测量方法
Methods for measuring dislocation of Indium phosphide single-crystal
发布日期:
1989-03-20
实施日期:
1989-03-25
分类信息
发布单位或类别:
中国 行业标准-电子
CCS分类:
H83冶金 - 半金属与半导体材料 - 化合物半导体材料、
ICS分类:
标准简介
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最后更新时间 2025-08-28
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