作废 SJ 3249.1-1989
半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法 半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法 Methods of measurement for resistivity of semi-insulation Gallium arsenide and Indium phosphide single crystal material
发布日期：1989-03-20
实施日期：1989-03-25
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： H83冶金 - 半金属与半导体材料 - 化合物半导体材料、                                                                       
ICS分类：
标准简介
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最后更新时间 2025-08-28