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微波电路型号命名方法
Designation of type for microwave circuits
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Система показателей качества продукции. Микросхемы интегральные. Номенклатура показателей
产品质量指标体系 集成电路 索引命名
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半导体集成电路 霍尔电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit
2023-08-06
GB/T 35005-2018
集成电路倒装焊试验方法
Test methods for flip chip integrated circuits
2018-03-15
GB/T 42970-2023
半导体集成电路 视频编解码电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring methods of video encoder and decoder circuits
2023-09-07
T/CIE 120-2021
半导体集成电路硬件木马检测方法
2021-11-22
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集成电路制版设备性能测试方法
Test methods for properties of mask-making equipment for manufacturing of ICs
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集成电路 焊柱阵列试验方法
Integrated circuits—Test methods for column grid array
2018-06-07
GB/T 14028-2018
半导体集成电路 模拟开关测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch
2018-03-15
DL/T 2813-2024
电力集成电路电磁兼容试验方法
2024-09-24
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柔性半导体集成电路弯曲试验方法
2023-12-29
SJ/T 11702-2018
半导体集成电路 串行外设接口测试方法
Semiconductor integrated circuits Measuring methods for serial peripheral interface
2018-02-09
GB/T 43063-2023
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Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors
2023-09-07
GB/T 42975-2023
半导体集成电路 驱动器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device
2023-09-07
SJ/T 11512-2015
集成电路用 电子浆料性能试验方法
Test methods of electronic pastes for integrated circuit performent
2015-04-30
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法
Semiconductor integrated circuits Measuring methods for voltage comparators
2018-02-09
GB/T 35007-2018
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
2018-03-15
GB/T 14030-1992
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
1992-12-17
GOST 28814-1990
Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения
集成电路 测量脉动调压器运行电路电气参数的方法
T/ICMTIA 5.3-2020
集成电路用ArF光刻胶光刻检测方法
2020-12-31