JJG (教委) 011-1996
透射电子显微镜检定规程
Verification Regulation for transmission electron microscope
JJG(教委) 011-1996
透射电子显微镜计量检定规程
1997-01-23
JJD 1016-1991
透射电子显微镜
Verification Regulation of Transmission Electron Microscope
1991-08-01
T/CSTM 00162-2020
透射电子显微镜校准方法
2020-03-23
JY/T 0581-2020
透射电子显微镜分析方法通则
General analysis rules for transmission electron microscope
2020-09-29
JJG(教委) 010-1996
分析型扫描电子显微镜检定规程
Verification regulation for analytical scanning electron microscope
1997-01-23
JJG (教委) 010-1996
分析型扫描电子显微镜检定规程
Verification Regulation for analytical scanning electron microscope
BS ISO 25498-2018
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
微束分析 分析电子显微镜 用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
2018-03-23
KS D 2716(2018 Confirm)
나노입자 지름 측정방법－투과전자현미경
纳米颗粒直径的测量－透射电子显微镜
2008-12-26
KS D 2716
나노입자 직경 측정방법 — 투과전자현미경
纳米颗粒直径的测量-透射电子显微镜
2023-06-30
ISO 25498-2025
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
微束分析 - 分析电子显微镜 - 使用透射电子显微镜的选择区域电子衍射分析
2025-05-15
KS D 8544(2021 Confirm)
금속 피막－피막의 두께 측정－투과 전자 현미경에 의한 방법
金属涂层——涂层厚度测量——透射电子显微镜法
2016-12-19
ASTM E3143-18b(2023)
Standard Practice for Performing Cryo-Transmission Electron Microscopy of Liposomes
脂质体的冷冻透射电子显微镜检查的标准实施规程
2023-09-01
KS D 8544
금속 피막－피막의 두께 측정－투과 전자 현미경에 의한 방법
涂层厚度透射电子显微镜法的金属涂层 测量
2016-12-19
YB/T 4676-2018
钢中析出相的分析 透射电子显微镜法
2018-10-22
ISO 19214-2024
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method of determination for apparent growth direction of nanocrystals by transmission electron microscopy
微束分析 分析电子显微镜 用透射电子显微镜测定纳米晶体表观生长方向的方法
2024-10-16
T/CSP 13-2024
颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法
2024-11-18
T/BSPT 6-2024
颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法
2024-11-18
GB/T 21637-2008
冠状病毒透射电子显微镜形态学鉴定方法
Method of morphological identification of coronavirus by using transmission electron microscopy
2008-04-11
GB/T 28044-2011
纳米材料生物效应的透射电子显微镜检测方法通则
General guide of detection method for nanomaterial biological effect by transmission electron microscope (TEM)
2011-10-31