作废 QJ 1906-1990
半导体器件破坏性物理分析及失效分析程序和方法 半导体器件破坏性物理分析及失效分析程序和方法
发布日期：1990-02-13
实施日期：1990-12-13
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-航天
CCS分类： V25航空、航天 - 航空器与航天器零部件 - 电子元器件
ICS分类：
标准简介
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最后更新时间 2025-08-28