作废 SJ 20147.1-1992
银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法 银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法 Measurement methods for electrodeposited silver and silver alloy coating thickness Method by the X-ray fluorescent spectrometry
发布日期:1992-11-19
实施日期:1993-05-01
分类信息
发布单位或类别: 中国 行业标准-电子
CCS分类: A29综合 - 基础标准 - 材料防护
ICS分类:
研制信息

起草单位: 中国华晶电子集团公司等单位

起草人: 全庆霄、 赵长春、 顾川生、 尧汝芳和李鹏

标准简介

本标准规定了用X射线荧光光谱法测量银和银合金镀覆层厚度的方法。它是一种非接触式的无损测量方法。本标准适用于银和银合金镀覆层厚度的测量,也适用于常用金属镀覆层厚度的测量。该方法还可同时测量出表面镀覆层和中间层的厚度

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最后更新时间 2025-08-29