首页
查标准
下载
专题
标签
搜索
首页
行业标准
QJ 2254-1992 半导体集成电路CMOS逻辑电路测试方法
作废
QJ 2254-1992
半导体集成电路CMOS逻辑电路测试方法
半导体集成电路CMOS逻辑电路测试方法
发布日期:
实施日期:
1992-11-01
分类信息
发布单位或类别:
中国 行业标准-航天
CCS分类:
L56电子元器件与信息技术 - 微电路 - 半导体集成电路
ICS分类:
标准简介
相似标准/计划/法规
GB/T 42838-2023
半导体集成电路 霍尔电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit
2023-08-06
GB/T 42970-2023
半导体集成电路 视频编解码电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring methods of video encoder and decoder circuits
2023-09-07
GB/T 14028-2018
半导体集成电路 模拟开关测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch
2018-03-15
SJ/T 11702-2018
半导体集成电路 串行外设接口测试方法
Semiconductor integrated circuits Measuring methods for serial peripheral interface
2018-02-09
GB/T 42975-2023
半导体集成电路 驱动器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device
2023-09-07
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法
Semiconductor integrated circuits Measuring methods for voltage comparators
2018-02-09
GB/T 35007-2018
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
2018-03-15
GB/T 14030-1992
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
1992-12-17
GB/T 43061-2023
半导体集成电路 PWM控制器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Test methods of PWM controller
2023-09-07
GB/T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of voltage regulators
2018-03-15
GB/T 35006-2018
半导体集成电路 电平转换器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter
2018-03-15
QJ 2491-1993
半导体集成电路 运算放大器测试方法
1993-03-30
GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
2018-06-07
GB/T 43040-2023
半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Test method of AC/DC converters
2023-09-07
QJ 1460-1988
半导体集成电路宽带放大器测试方法
1988-04-08
GB/T 14862-1993
半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
Junction-to-case thermal resistance test methods of packages for semiconductor integrated circuits
1993-12-30
SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
Semiconductor integrated circuits test methodof field programmable gate array
2018-02-09
GOST R 57394-2017
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
集成电路和半导体器件 非故障运行加速测试方法
GB/T 44924-2024
半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring methods for RF transmitter/receiver
2024-12-31
GB/T 42848-2023
半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer
2023-08-06
电路
集成电路
半导体
逻辑
测试
最后更新时间 2025-08-29
×