作废 SJ 20233-1993
IMPACT-II型半导体分立器件测试系统检定规程 IMPACT-II型半导体分立器件测试系统检定规程 Verification regulation of model IMPACT-Ⅱ semiconductor discrete device test system
发布日期：1993-02-09
实施日期：1993-05-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： A56综合 - 计量 - 无线电计量、                                                                                 
ICS分类：
研制信息

起草单位： 机电部第五研究所

起草人： 梁琼崇

标准简介
相似标准/计划/法规
半导体检定分立器件测试

最后更新时间 2025-08-29