起草单位: 电子工业部第十四研究所
起草人: 方同城、 龚至泽、 刘文华
本标准规定了在天线测试场内,对低副瓣平板裂缝天线的方向图、增益等性能远场测试方法。本标准适用于副瓣电平优于-25dB的线极化平板裂缝天线的性能远场测试,对由非波导裂缝的其他辐射单元所组成的,具有一般副瓣电平、低副瓣电平的线极化平面阵列天线性能远场测试亦可参照使用
最后更新时间 2025-08-29