现行 HB 6742-1993
单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法 单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法
发布日期:1993-11-05
实施日期:1994-03-01
分类信息
研制信息

起草单位: 中国航空工业总公司六二一研究所主编、 三三一厂和四- 0厂参加起草。本标准由中国航空工业总公司六二一研究所主编、 三三一厂和四一〇厂参加

起草人: 张国焕、 龚慧锋、 张银东、 任启运

标准简介
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射线叶片晶体取向测定

最后更新时间 2025-08-29