作废 QJ 260-1977
半导体集成相敏整流电路测试方法(试行) 半导体集成相敏整流电路测试方法(试行)
发布日期：1978-08-15
实施日期：1978-08-15
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-航天
CCS分类： V25航空、航天 - 航空器与航天器零部件 - 电子元器件
ICS分类：
标准简介
相似标准/计划/法规
电路半导体整流试行集成

最后更新时间 2025-08-27