作废 SJ/T 10415-1993
晶体管热敏参数快速筛选试验方法 晶体管热敏参数快速筛选试验方法 Rapid screening test methods for thermal sensitive parameter of transistor
发布日期：1993-12-17
实施日期：1994-06-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L40电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体分立器件综合
ICS分类： 31.080.30半导体分立器件 - 三极管
标准简介
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最后更新时间 2025-08-29