现行 QJ 2689-1994
电子元器件中多余物的X射线照相检验方法 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法
发布日期：1994-06-24
实施日期：1994-12-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-航天
CCS分类： L10电子元器件与信息技术 - 电子元件 - 电子元件综合
ICS分类： 19.100试验 - 无损检测
研制信息

起草单位： 中国航天工业总公司五院和二院六九九厂

起草人： 夏泓、 戴俊、 刘世才、 孙耀康

标准简介
相似标准/计划/法规
射线电子元器件照相检验方法

最后更新时间 2025-08-29