起草单位: 电子工业部第十四研究所
起草人: 李俊沛、 陆祥林、 王宝艾、 张晓燕
本标准规定了低副瓣平板裂缝天线性能的平面近场测试方法。本标准适用于频率从3GHz到18GHz、副瓣电平劣于-35dB的线极化平板裂缝天线性能的近场测试。相邻波段及其它型式面天线也可参照使用
最后更新时间 2025-08-29