现行 SJ 20400-1994
低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法 低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法 Methods of near -- field measurement for planar waveguide -- fed slot arrays with low sidelobes
发布日期:1994-09-30
实施日期:1994-12-01
分类信息
研制信息

起草单位: 电子工业部第十四研究所

起草人: 李俊沛、 陆祥林、 王宝艾、 张晓燕

标准简介

本标准规定了低副瓣平板裂缝天线性能的平面近场测试方法。本标准适用于频率从3GHz到18GHz、副瓣电平劣于-35dB的线极化平板裂缝天线性能的近场测试。相邻波段及其它型式面天线也可参照使用

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最后更新时间 2025-08-29