现行 SJ 20438-1994
红外探测器用碲锡铅晶片测试方法 红外探测器用碲锡铅晶片测试方法 Methods for measurement of lead tin telluride slice for use in infrared detector
发布日期：1994-09-30
实施日期：1994-12-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L52电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 红外器件、                                                                       
ICS分类：
研制信息

起草单位： 电子工业部第十一研究所

起草人： 李兆瑞、 范正风

标准简介

本标准规定了红外探测器用碲锡铅单晶片的电学参数、结构参数和组分的测试方法。本标准适用于红外探测器用碲锡铅外延衬底用单晶片的性能检测和评定，也适用于碲化铅和碲锡铅外延膜位错腐蚀坑的检测

相似标准/计划/法规
SJ 20437-1994
红外探测器用碲锡铅晶片规范
Specification for lead tin telluride slice for use in infrared detector
1994-09-30
晶片探测测试方法碲锡铅

最后更新时间 2025-08-29