ITU-T X.141
General principles for the detection and correction of errors in public data networks
公共数据网络中错误检测和纠正的一般原则
1988-11-25
INCITS TR-43-2008
Information Technology - Disable Data Transfer after Error Detection (DDT)
信息技术.错误检测后禁用数据传输（DDT）
2008-08-01
ISO 1155-1978
Information processing — Use of longitudinal parity to detect errors in information messages
信息处理——使用纵向奇偶校验检测信息消息中的错误
1978-11-01
ISO 1155-1978
Information processing - Use of longitudinal parity to detect errors in information messages
信息处理.使用纵向奇偶校验检测信息电文中的错误
1978-11-01
SMPTE RP 165-1994
Error Detection Checkwords and Status Flags for Use in Bit-Serial Digital Interfaces for Television
用于电视位串行数字接口的错误检测校验字和状态标志
1994-01-01
BS 4505-3-1981
Digital data transmission-Method for use of longitudinal parity to detect errors in information messages
数字数据传输
1981-11-30
MIL DESC 5962-88533C
MICROCIRCUIT, DIGITAL, CMOS, ERROR DETECTION AND CORRECTION UNIT, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-88533A)
微电路 数字 CMOS 错误检测和校正单元 单片硅（取代DESC 5962-88533A）
1994-04-20
MIL DESC 5962-87602A
MICROCIRCUITS, BIPOLAR, 16-BIT ERROR DETECTION AND CORRECTION UNIT, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-87602)
单片硅双极16位错误检测和校正单元微电路（取代DESC 5962-87602）
1988-07-26
MIL DESC 5962-88613A Notice B-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL CMOS, 16-BIT ERROR DETECTION AND CORRECTION UNIT, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-88613)
微电路 数字CMOS 16位错误检测和校正单元 单片硅（取代DESC 5962-88613）
1991-11-25
MIL DESC 5962-88613A
MICROCIRCUIT, DIGITAL CMOS, 16-BIT ERROR DETECTION AND CORRECTION UNIT, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-88613)
微电路 数字CMOS 16位错误检测和校正单元 单片硅（取代DESC 5962-88613）
1990-09-24
ITU-R BT.1304
Checksum for error detection and status information in interfaces conforming with Recommendations ITU-R BT.656 and ITU-R BT.799
符合ITU-R BT.656和ITU-R BT.799建议的接口中错误检测和状态信息的校验和
1997-10-24
MIL DESC 5962-92122B
MICROCIRCUIT, DIGITAL, CMOS, 32-BIT FLOW-THRU ERROR DETECTION AND CORRECTION UNIT, MONOLITHIC SILICON(SUPERSEDING DESC 5962-92122A)
微电路 数字 CMOS 32位流经错误检测和校正单元 单片硅（取代DESC 5962-92122A）
1993-10-12
MIL DSCC 5962-96711C
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED ADVANCED CMOS, ERROR DETECTION AND CORRECTION UNIT WITH THREE-STATE OUTPUTS, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-96711)
微电路 数字 抗辐射先进CMOS 错误检测和校正单元 三态输出 单片硅（取代DESC 5962-96711）
2000-06-21
MIL DSCC 06239A
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 16-BIT PARALLEL ERROR DETECTION AND CORRECTION CIRCUIT, WITH THREE-STATE OUTPUTS, MONOLITHIC SILICON(SUPERSEDING DSCC 06239)
微电路 数字 抗辐射 先进的CMOS 16位并行错误检测和校正电路 三态输出 单片硅（取代DSCC 06239）
2007-04-17
MIL DSCC 5962-96721C
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, ERROR DETECTION AND CORRECTION CIRCUIT WITH THREE-STATE OUTPUTS, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-96721)
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 错误检测和校正电路 三态输出 TTL兼容输入 单片硅（取代DESC 5962-96721）
2000-07-03