作废 JB/T 7624-1994
整流二极管测试方法 整流二极管测试方法
发布日期:1994-12-09
实施日期:1995-06-01
分类信息
标准简介

本标准给出了整流(二极)管的电、热测试的一般要求,热特性、电特性和额定值的测试方法。 本标准适用于普通整流管、快恢复整流管、机动车用整流管、高压整流堆,雪崩整流管和可控雪崩警流管等整流管类半导体分立器件。半导体整流模块和半导体整流组件的有关电、热参数测试也可参照使用

相似标准/计划/法规
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整流二极管测试方法
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2013-04-25
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1997-06-28
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1973-10-15
KS C IEC 60747-2-1(2021 Confirm)
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2018-02-06
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반도체 소자-개별 소자-제2부:정류 다이오드-제1절:100 A 이하의 주위 및 케이스 정격 정류 다이오드 (애벌란시 정류 다이오드 포함)의 개별 규격 지침
半导体器件分立器件第2部分:整流二极管第一节:100A及以下环境和外壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
2006-12-11
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반도체 소자-개별 소자-제2부:정류 다이오드-제2절:100 A 초과의 주위 및 케이스 정격 정류 다이오드 (애벌란시 정류 다이오드 포함)의 개별 규격 지침
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2006-12-11
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반도체 소자-개별 소자-제2부:정류 다이오드-제2절:100 A 초과의 주위 및 케이스 정격 정류 다이오드 (애벌란시 정류 다이오드 포함)의 개별 규격 지침
半导体器件分立器件第2部分:整流二极管第2节:额定环境和外壳电流大于100A的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
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Semiconductor devices--Discrete devices--Part 2:Rectifier diodes--Section One:Blank detail specification for rectifier diodes(including avalanche recti fier diodes),ambient and case-rated,up to 100A
1998-11-17
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电子元件质量评定协调体系规范 空白详细规范 整流二极管(包括雪崩整流二极管) 环境和外壳额定 电流大于100 A
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最后更新时间 2025-08-29