起草单位: 天津大学、 北京自动测试技术研究所
起草人: 刘家松、 邓平
本标准适用于在集成电路组装在一块印制电路板或其它基底上后测试集成电路间的互连性、测试集成电路本身和在这个器件正常工作期间观测或修改电路的动作
最后更新时间 2025-08-29