现行 SJ/T 10626-1995
键合金丝中微量杂质的ICP发射光谱分析方法 键合金丝中微量杂质的ICP发射光谱分析方法 Method for determining impurities in gold wire for semiconductor lead bonding by ICP-AES
发布日期:1995-04-22
实施日期:1995-10-01
分类信息
研制信息

起草单位: 电子工业部第46研究所

起草人: 王春梅、 张棋珍、 段曙光

标准简介

本标准适用于键合金丝中银、铜、钙、镁、锰、铁、铋、铅元素的测定。其测定范围:铅、铋为0.0008%~0.0500%,其余为0.0005~0.0500%

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最后更新时间 2025-08-29