作废 SJ/T 10740-1996
半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 General principles of measuring methods of bipolar random access memory for semiconductor integrated circuits
发布日期：1996-11-20
实施日期：1997-01-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L56电子元器件与信息技术 - 微电路 - 半导体集成电路
ICS分类：
标准简介
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集成电路半导体存储器基本原理测试

最后更新时间 2025-08-29