现行 QJ 1906A-1997
半导体器件破坏性物理分析(DPA)方法和程序 半导体器件破坏性物理分析(DPA)方法和程序
发布日期:1997-10-13
实施日期:1997-10-15
分类信息
研制信息

起草单位: 中国航天工业总公司五院第511 研究所

起草人: 夏泓、 余振醒、 江理东

标准简介
相似标准/计划/法规
T/WXIOT 002-2023
汽车用半导体分立器件破坏性物理分析方法
2023-12-22
物理破坏性程序方法半导体器件

最后更新时间 2025-08-29