现行 SJ 20719-1998
碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法 碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法 Method of determination X value for mercury cadmium telluride for use in X-ray fluorimetry
发布日期：1998-03-18
实施日期：1998-05-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： H82冶金 - 半金属与半导体材料 - 元素半导体材料
ICS分类：
研制信息

起草单位： 中国电子技术标准化研究所

起草人： 李兆瑞、 刘筠

标准简介

本标准规定了用X-射线荧光法测定碲镉汞晶片的组分X值。 本标准适用于X值在0.100～0.350mo1范围内的碲镉汞晶片组分X值定量测定

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最后更新时间 2025-08-30