GB/T 22319.7-2015
石英晶体元件参数的测量 第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量
Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 7:Measurement of activity dips of quartz crystal units
2015-06-02
BS EN 60444-2-1997
Measurement of quartz crystal unit parameters-Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
石英晶体单元参数的测量 相位偏移法测量石英晶体元件的动态电容
1993-09-15
KS C IEC 60444-7
수정진동자의 매개변수 측정 ― 제7부: 수정진동자의 활성도 및 주파수 강하 측정
的石英晶体元件参数的测量 - 第7部分:石英晶体元件的活性和频率下降的测量
2016-12-29
KS C IEC 60444-7(2021 Confirm)
수정진동자의 매개변수 측정 ― 제7부: 수정진동자의 활성도 및 주파수 강하 측정
石英晶体元件参数测量第7部分:石英晶体元件活度和频率倾角的测量
2016-12-29
IEC 60444-7-2004
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 7: Measurement of activity and frequency dips of quartz crystal units
石英晶体单元参数的测量.第7部分:石英晶体单元的活性和频率下降的测量
2004-04-05
KS C IEC 60444-8
수정진동자의 변수 측정 ― 제8부: 표면실장 수정진동자용 시험 치구
的石英晶体元件参数的测量 - 第8部分:表面安装石英晶体元件测试夹具
2016-12-29
GB/T 22319.8-2008
石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
Measurement of quartz crystal unit parameters--Part 8:Test fixture for surface mounted quartz crystal units
2008-08-06
KS C IEC 60444-8(2021 Confirm)
수정진동자의 변수 측정 ― 제8부: 표면실장 수정진동자용 시험 치구
石英晶体元件参数测量第8部分:表面安装石英晶体元件试验夹具
2016-12-29
IEC 60444-8-2016
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units
石英晶体单位参数测量第8部分:表面贴装石英晶体单元的测试夹具
2016-12-15
KS C IEC 60444-9
수정진동자의 매개변수 측정 ― 제9부: 압전 수정진동자의 의사 공진 측정
的石英晶体元件参数的测量 - 第9部分:压电晶体单元的寄生共振的测定
2016-12-29
GB/T 22319.9-2018
石英晶体元件参数的测量 第9部分:石英晶体元件寄生谐振的测量
Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 9:Measurement of spurious resonances of piezoelectric crystal units
2018-03-15
KS C IEC 60444-9(2021 Confirm)
수정진동자의 매개변수 측정 ― 제9부: 압전 수정진동자의 의사 공진 측정
石英晶体元件参数测量第9部分:压电晶体元件寄生谐振的测量
2016-12-29
IEC 60444-9-2007
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 9: Measurement of spurious resonances of piezoelectric crystal units
石英晶体单元参数的测量.第9部分:压电晶体单元寄生谐振的测量
2007-02-20
SJ/Z 9154.2-1987
用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第二部分 测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a π-network--Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
1988-01-06
KS C IEC 60444-2(2017 Confirm)
파이회로에서 영상법에의한 수정유니트 변수측정 제2부:수정유니트의 동적용량 측정용 위상분기법
用p网络零相位法测量石英晶体元件参数第2部分:测量石英晶体元件动电容的相位偏移法
2002-12-30
KS C IEC 60444-2(2022 Confirm)
파이회로에서 영상법에의한 수정유니트 변수측정 제2부:수정유니트의 동적용량 측정용 위상분기법
用p网络中的零相位技术测量石英晶体单元参数第2部分:石英晶体单元运动电容测量的相位偏移法
2002-12-30
IEC 60444-2-1980
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
在pi网络中通过零相位技术测量石英晶体单位参数 第2部分:用于测量石英晶体单元的运动电容的相位偏移方法
1980-01-01
SJ/T 11212-1999
石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
Measurement of quartz crystal unit parameters-Part 6: Measurement of drive level dependence
1999-08-26
BS EN 60444-1-1997
Measurement of quartz crystal unit parameters-Basic method for the measurement of resonance frequency and resonance resistance of quartz crystal units by zero phase technique in a π-network
石英晶体单元参数的测量
2000-08-15
KS C IEC 60444-6
수정진동자의 매개변수 측정 — 제6부: 구동 범위 의존성 측정(DLD)
石英晶体单元参数的测量.第6部分:驱动电平相关性（DLD）的测量
2023-05-16