作废 SY/T 6414-1999
全岩光片显微组分测定方法 全岩光片显微组分测定方法 Maceral analysis on polished surfaces of whole rocks
发布日期:1999-05-17
实施日期:1999-12-01
分类信息
标准简介

本标准规定了在偏反光显微镜下,用反射白光和反射荧光测定全岩光片显微组分体积分数的方法。 本标准适用于暗色泥岩、碳酸盐岩和煤光片显微组分的测定

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最后更新时间 2025-08-30