作废 JB/T 8268-1999
静电复印感光体表面缺陷 测量方法 静电复印感光体表面缺陷 测量方法 Standard test method for surface defect of photoconductor for electrostatic process
发布日期：1999-08-06
实施日期：2000-01-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-机械
CCS分类： N47仪器、仪表 - 电影、照相、缩微、复印设备 - 缩微复印机械
ICS分类： 31.120电子学 - 电子显示器件
标准简介

本标准规定了静电复印感光体表面缺陷的测量方法、测量步骤、检验规则及时试验报告的要求。 本标准适用于静电复印感光体（硒鼓、硫化镉鼓、有机光导体鼓、无定型硅鼓、氧化锌版等）的外观质量及背景印迹检查，对静电复印机用反射镜的表面缺陷检查亦应参照使用

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最后更新时间 2025-08-30