作废 JB/T 10030-1999
光栅线位移测量系统 光栅线位移测量系统 Grating linear displacement measuring system
发布日期:1999-05-20
实施日期:2000-01-01
分类信息
研制信息

起草单位: 成都工具研究所

起草人: 李巧

标准简介

本标准规定了光栅线位移测量系统的基本参数、技术要求和试验方法。 本标准适用于分辨率为0.1~10μm的测量系统

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最后更新时间 2025-08-30