现行 SJ/T 11207-1999
钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法 Measurement of magnetic properties of YIG single crystal magnetic-films
发布日期：1999-08-26
实施日期：1999-12-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L90/94电子元器件与信息技术 - 电子设备与专用材料、零件、结构件
ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学
研制信息

起草单位： 华中理工大学

起草人： 周世昌、 攀林慧、 刘玳珩、 贺洪波、 赵振声

标准简介
相似标准/计划/法规
薄膜磁性特性单晶

最后更新时间 2025-08-30