现行 SJ/T 11212-1999
石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量 Measurement of quartz crystal unit parameters-Part 6: Measurement of drive level dependence
发布日期:1999-08-26
实施日期:1999-12-01
分类信息
研制信息

起草单位: 电子工业部标准化研究所

起草人: 邓鹤松、 章怡、 宋佩钰、 边一林

标准简介
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最后更新时间 2025-08-30