现行 SJ 20785-2000
超辅射发光二极管组件测试方法 超辅射发光二极管组件测试方法 Measuring methods for super luminescent diode module
发布日期：2000-10-20
实施日期：2000-10-20
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件
ICS分类：
研制信息

起草单位： 电子部第四十四研究所

起草人： 魏进、 易向阳、 常利民、 李春芳

标准简介

本标准规定了超辐射发光二极管组件光电参数的测试方法。 本标准适用于超辐射发光二极管组件光电参数测试

相似标准/计划/法规
JIS C 5947-2005
Measuring methods of laser diode modules for optical fiber amplifier
光纤放大器用激光二极管组件的测量方法
2005-01-01
SJ/T 2658.10-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第10部分：调制带宽
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 10:Modulation bandwidth
2015-10-10
组件测试方法超辅射

最后更新时间 2025-08-30