Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения теплового сопротивления переход-корпус и импульсного теплового сопротивления
半导体UHF二极管 热电阻和脉冲热阻的测量方法
SJ/T 2658.15-2016
半导体红外发射二极管测量方法 第15部分：热阻
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 15:Thermal resistance
2016-01-15
JEDEC JESD51-14
INTERFACE TEST METHOD FOR THE MEASUREMENT OF THE THERMAL RESISTANCE JUNCTION-TO-CASE OF SEMICONDUCTOR DEVICES WITH HEAT FLOW TROUGH A SINGLE PATH
测量单通道热流半导体器件结-壳热阻的接口试验方法
2010-11-01
GB/T 8446.2-2022
电力半导体器件用散热器 第2部分：热阻和流阻测量方法
Heat sinks for power semiconductor devices—Part 2: Measurement methods of thermal resistance and inlet-outlet fluid pressure drop