GOST R ISO/IEC 10373-3-2011
Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 3. Карты на интегральных схемах с контактами и связанные с ними устройства сопряжения
身份证测试方法 具有触点和相关接口设备的集成电路卡
ISO/IEC 10373-3-2018
Identification cards — Test methods — Part 3: Integrated circuit cards with contacts and related interface devices
识别卡 - 测试方法第3部分:带触点和相关接口设备的集成电路卡
2018-08-16
ISO/IEC 10373-3-2018
Identification cards - Test methods - Part 3: Integrated circuit cards with contacts and related interface devices
识别卡 - 测试方法第3部分:带触点和相关接口设备的集成电路卡
2018-08-16
KS X 6922-3(2018 Confirm)
지불 시스템을 위한 IC 카드 규격－제3부：애플리케이션 규격
支付系统用集成电路卡规范第3部分:应用规范
2008-12-19
KS X 6922-3(2023 Confirm)
지불 시스템을 위한 IC 카드 규격－제3부：애플리케이션 규격
支付系统集成电路卡规范第3部分:应用规范
2008-12-19
KS X ISO/IEC 10373-3(2012 Confirm)
ID 카드－시험방법－제3부：접촉식 IC 카드와 관련 인터페이스 장치
识别卡试验方法第3部分:带触点的集成电路卡及相关接口装置
2007-07-09
KS X ISO/IEC 10373-3
ID 카드 — 시험방법 — 제3부：접촉식 IC 카드 및 관련 인터페이스 장치
识别卡.试验方法.第3部分:带触点和相关接口装置的集成电路卡
2022-11-02
GB/T 17554.3-2006
识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备
Identification cards - Test methods Part 3: Integrated circuit(s) cards with contacts and related interface devices
2006-03-14
JR/T 0025.1-2018
中国金融集成电路（IC）卡规范 第1部分：总则
China financial integrated circuit card specifications-Part 1：General principles
2018-11-28
JR/T 0025.3-2018
中国金融集成电路（IC）卡规范 第3部分：与应用无关的IC卡与终端接口规范
China financial integrated circuit card specifications-Part 3：Specification on application independent ICC to terminalinterface requirements
2018-11-28
MIL MIL-C-50790A Notice 1-Cancellation
CIRCUIT CARD ASSEMBLIES, TEST SET, AN/MWM-3 GENERAL SPECIFICATION FOR (NO S/S DOCUMENT) (SUPERSEDING MIL-C-50790)
电路卡组件 试验装置 AN/MWM-3通用规范（无S/S文件）（代替MIL-C-50790）
1997-04-18
MIL MIL-C-50790A Amendment 1
CIRCUIT CARD ASSEMBLIES, TEST SET, AN/MWM-3 GENERAL SPECIFICATION FOR (NO S/S DOCUMENT) (SUPERSEDING MIL-C-50790)
电路卡组件 试验装置 AN/MWM-3通用规范（无S/S文件）（代替MIL-C-50790）
1993-01-04
MIL MIL-C-50790A
CIRCUIT CARD ASSEMBLIES, TEST SET, AN/MWM-3 GENERAL SPECIFICATION FOR (NO S/S DOCUMENT) (SUPERSEDING MIL-C-50790)
电路卡组件 测试装置 AN/MWM-3通用规范（无S/S文件）（代替MIL-C-50790）
1991-05-31
ISO/IEC 18584-1-2025
Information technology — Test methods for on-card biometric comparison applications — Part 1: General principles and specifications
信息技术 卡上生物特征比较应用的试验方法 第1部分:一般原则和规范
2025-05-29
ISO/IEC 18584-1-2025
Information technology - Test methods for on-card biometric comparison applications - Part 1: General principles and specifications
信息技术 卡上生物特征比较应用的试验方法 第1部分:一般原则和规范
2025-05-29
ETSI TS 101 203-3
Identification card systems; Telecommunications IC cards and terminals; Test methods and conformance testing for EN 726-3; Part 3: Abstract Test Suite (ATS) and Implementation eXtra Information for Testing (IXIT) proforma specification
身份证系统；电信IC卡和终端；EN 726-3的测试方法和一致性测试；第3部分:抽象测试套件（ATS）和测试实施额外信息（IXIT）形式规范
1997-07-01
KS C IEC 60603-12(2019 Confirm)
인쇄 기판에 사용하는 3 MHz 미만 주파수용 커넥터 — 제12부: 집적 회로에 사용하도록 설계된 소켓의 치수, 일반 요구사항의 시험에 대한 개별 규격
用于频率低于3 Mhz的连接器用于印刷电路板 - 第12部分:尺寸详细规格 适用于集成电路的一系列插座的一般要求和测试
2014-12-09
KS C IEC 60603-12(2024 Confirm)
인쇄 기판에 사용하는 3 MHz 미만 주파수용 커넥터 — 제12부: 집적 회로에 사용하도록 설계된 소켓의 치수, 일반 요구사항의 시험에 대한 개별 규격
印制板用频率低于3MHz的连接器第12部分:集成电路用插座尺寸、一般要求和试验的详细规范
2014-12-09
GB/T 15157.12-2011
频率低于3MHz的印制板连接器 第12部分:集成电路插座的尺寸、一般要求和试验方法详细规范
Connectors for frequencies below 3 MHz for use with printed boards - Part 12: Detail specification for dimensions, general requirements and tests for a range of sockets designed for use with integrated circuits
2011-12-30
IEC 60603-12-1992
Connectors for frequencies below 3 MHz for use with printed boards - Part 12: Detail specification for dimensions, general requirements and tests for a range of sockets designed for use with integrated circuits
用于频率低于3 Mhz的连接器用于印刷电路板 - 第12部分:尺寸详细规格 适用于集成电路的一系列插座的一般要求和测试
1992-06-25